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stabes mehrere Mikvoskope auf einem Schlitten oder Magen parallel zu einaiuler und in bestimmten Abstiinden zu befestigen wiiren. Zweckïniissig diirfte es sein, auf einem Schlitten von 7 Dezimeter Lünge im Abstnnde von bezw. 1, 2, 4 und (5 Dezimeter von einem Rande 4 Mikrometermikrosskope justirbar zu montiren. Dann ist es bei passender Stellung des Wagens möglich, Intervalle von 1, 2, -'5, I und 5 Dezimeter ') selir rasch und unalihangig von einander auszumessen, wenn die hiezu erforderlichen Einstellnngeu in passender Reilienfolge so ofl als notwendig Aviederliolt werden. Die zu verschiedenen Zeiten erfolgenden Einstellnngeu desselben -Mikroskopes auf denselben Teilstrich dienen zur Kontrolle etwaiger Verschiebungen des Schlittens, und geben iiberdies ein Mass fiir die Einstellungsfelder.

Begiiint man die Messungen in der Stellung des Schlittens woselbst das zweite Mikroskop iiber dein Xullstricli des Meterstabes sicli betindet n ml verschiebt dann den Schlitten von Dezimeter zu Dezimeter, bis das zweite Mikroskop iiber dem Endstrich stelit, so können verhiiltnismiissig rasch alle zur Berechnung der innern Tlieilungsfehler der Dezimeter der einzelnen Iliilften (0-50) und (5U-100) nach der von Herrn Prof. Tiiiksen und Herrn Markk znr Kalibrirung der Thermometer angegebenen Methode und zugleich die zur genauen Vergleichung der beider Iliilften erforderlichen Beobachtungen gewonnen und die Tlieilungsfehler auf das Intervall 0-100 bezogen werden2).

Dieses Verfahren diirfte nach den inzwischen von Herrn Dr. Gi ili.ume ain Stauke"schen Universalkomparator des internationalen Massund Ge wichtsbureaus bei Beobachtungen iihnlicher Art geuiaehten Erfahrungen zu recht guten Resultaten fiihren, und dalier demjenigen noch vorzuziehen sein, welches ich in Krweiterung der von Herrn Staatsrat Direktor Dr. II. v. Wii.d in seinen metrologischeii Studiën veröftentlichten Methode entwickelt liabe'1), und welches fiir die ineisten Zwecke bereits vollstiindig geniigt.

') Dit Kombination erlaubt das Intervall von 2 Dezimeter zweimal mit verschiedenen Mikroskopen zit messen, wenn dies von Wert erscheinen sollte.

= i Caki.'s Repertorium fiir Experimentalphysik, XV Bd. Travaux et mémoires, Tome II, pag. 35—40. Tome IV, pag. 18—">2.

Vergl. Travaux et mémoires Tome IV. pag. 99, woselbst auch das Schema der Berechnung fiir den obigen Fall angegeben ist.

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